Die Paralleltest-Funktion ermöglicht den zeitgleichen Test mehrerer Baugruppen, zum Beispiel alle Boards eines Nutzens. Dies führt zu einer Durchsatzsteigerung von 400 % im Vergleich zu anderen Nadelbett-Testern.
Der SPEA 3030 führt alle Testschritte zeitgleich durch und hält so auch mit den schnellsten Produktionstaktzeiten Schritt. Auch zu programmierende Logik-Bausteine können mit dem On-Board-Programming-Modul parallel programmiert werden.
Garant für zurverlässige Tests komplexer analoger oder digitaler Baugruppen ist die direkte Pinelektronik von SPEA. Kennzeichen sind Flankensteilheiten bis 500 V/µs, Treiberströme bis 300 mA, Strobe-Auflösungen von 10 ns und programmierbare Pegel bis 5 V. Nicht gemultiplext stellt die Pinelektronik an jedem Kanal (1:1) einen völlig unabhängigen Stimuli- und Messkanal bereit.
Der SPEA 3030 bietet die Möglichkeit für Multifunktionstests. Verschiedenste Prüfschritte und Operationen werden zeitgleich in einer einzigen Testsession durchgeführt wie z. B. das On-Board-Programming der Komponenten, ohne dass zusätzliches oder spezielles Equipment benötigt wird.
Der Wechsel voneinem anderen Testsystem auf den SPEA 3030 ist innerhalb weniger Stunden möglich. Dank der breiten Palette von Adaptierungsmöglichkeiten und Schnittstellen können Sie Adapter Ihres alten Systems sowie Testprogramme samt der Bibliotheken einfach übernehmen. Die Adapter für die SPEA 3030 Testsysteme sind in der Regel preiswerter als die anderer am Markt vefügbarer Nadelbett-Tester.
Mit den SPEA Power-Modulen testen Sie souverän und zuverlässige Baugruppen der Leistungselektronik, Netzteile und Stromversorgungen. Hierzu gehören AC/DC-Quellen mit Spannungen bis zu 300 V (520 V). Integriert sind weiterhin elektronische Lasten mit Spannungen bis 200 V und Strömen bis 50 A sowie ein frequenzbewertendes Ripple-Messmodul. Die SPEA Power-Matrix zum Schalten und Verteilen hoher Spannungen und Ströme runden das Angebot ab.